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基于电热耦合仿真的BGA焊点缺陷检测研究-金属加工·热加工2026年04期

基于电热耦合仿真的BGA焊点缺陷检测研究

作者:王哲 沙林秀 字体:      

1序言

倒装芯片封装技术凭借其高密度互连特性,已成为AI芯片、GPU等先进算力芯片的主流封装方案1]随着焊点尺寸微缩至微米级且工作电流密度持续提升,焊点缺陷引发的电热失效风险日益突出[2]。虚焊导致接触电阻增大,(试读)...

金属加工·热加工

2026年第04期