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基于TDDB的数字隔离器寿命测试系统-现代电子技术2025年06期

基于TDDB的数字隔离器寿命测试系统

作者:李梓腾 王进军 陈炫宇 王凯 字体:      

摘  要: 为评估数字隔离器在长期使用过程中的稳定性和寿命,提出一种基于经时击穿(TDDB)的寿命测试系统,通过自动化和多路并行测试来提升测试效率。具体方法包括设计一个支持16路同时进行测试的系统,使用DS(试读)...

现代电子技术

2025年第06期